يعد كل من تقنية TXRF (تفلور الأشعة السينية الانعكاسي الكلي للأشعة السينية) وتقنية EDXRF (تفلور الأشعة السينية المشتت للطاقة) تقنيتين تحليليتين تستخدمان لتحليل العناصر، ولكنهما تختلفان في الإعداد والحساسية ومجالات التطبيق. إن تقنية TXRF هي شكل متخصص من تقنية EDXRF التي تعمل في ظروف الانعكاس الكلي، مما يعزز حساسيتها للكشف عن العناصر النزرة. من ناحية أخرى، يعد EDXRF أكثر تنوعًا ويستخدم على نطاق واسع في مختلف الصناعات نظرًا لبساطته وقدرته على تحليل عناصر متعددة في وقت واحد.
شرح النقاط الرئيسية:
1.المبادئ الأساسية للتفلسف الراديوي بالأشعة السينية
- نظرة عامة على XRF: التفلور بالأشعة السينية (XRF) هو تقنية تحليلية غير مدمرة تُستخدم لتحديد التركيب العنصري للمواد. وتعمل هذه التقنية من خلال تشعيع عينة بفوتونات عالية الطاقة (أشعة سينية)، مما يجعل الذرات في العينة تنبعث منها أشعة سينية ثانوية (تألق) مميزة لعناصرها.
- آلية الكشف: يتم الكشف عن الأشعة السينية المنبعثة وتحليلها لتحديد العناصر الموجودة في العينة وتحديد كميتها. ويستند ذلك إلى مبدأ أن لكل عنصر مجموعة فريدة من مستويات الطاقة، مما ينتج عنه طاقات فريدة لانبعاث الأشعة السينية.
2.الاختلافات بين التفلسف الترددي الترددي العكسي والتفلسف الإلكتروني الترددي
-
الإعداد التجريبي:
- TXRF
- : يستخدم هندسة الانعكاس الكلي حيث يضرب شعاع الأشعة السينية الساقط العينة بزاوية منخفضة للغاية (قريبة من الزاوية الحرجة للانعكاس الكلي). يعزز هذا الإعداد حساسية الكشف عن العناصر النزرة من خلال تقليل ضوضاء الخلفية من الركيزة.EDXRF
-
: عادةً ما يستخدم هندسة الزاوية المباشرة أو الوامضة. تصطدم حزمة الأشعة السينية بالعينة بزاوية أعلى، ويمكن أن يكون نظام الكشف إما مشتت الطاقة أو مشتت الطول الموجي، اعتمادًا على نوع المطياف المستخدم.الحساسية وحدود الكشف
- :
- TXRF: يوفر حساسية أعلى وحدود كشف أقل، مما يجعله مناسبًا لتحليل العناصر النزرة في أحجام العينات الصغيرة جدًا أو التركيزات المنخفضة للغاية.
EDXRF: يتميز عمومًا بحدود كشف أعلى مقارنةً بالتردد الراديوي الترددي الترددي العكسي TXRF ولكنه أكثر تنوعًا وأسهل استخدامًا للتحليل الروتيني لمجموعة كبيرة من العينات.
-
3.التطبيقات والمزايا
- تطبيقات TXRF:
- تحليل العناصر النزرة
-
: مثالي للكشف عن العناصر النزرة في العينات البيئية والسوائل البيولوجية والمواد شبه الموصلة وتحديد كميتها.التحليل السطحي
- : نظرًا لإعدادات الانعكاس الكلي، يعتبر TXRF ممتازًا لتحليل الأغشية الرقيقة والطبقات السطحية.تطبيقات EDXRF
- :
التحليل واسع النطاق: يُستخدم في مختلف الصناعات بما في ذلك علم المعادن والجيولوجيا والعلوم البيئية وعلوم المواد للتحليل العنصري الروتيني والشامل.
-
الاختبارات غير المدمرة: كل من الترددات الراديوية الترددية العاكسة والترددات الراديوية الترددية غير متلفة، مما يحافظ على سلامة العينة أثناء التحليل.
- 4.اعتبارات عملية لمشتري معدات المختبرات
- اختيار الأجهزة:
-
TXRF
- : اختر TXRF إذا كانت الحساسية العالية للعناصر النزرة والتحليل السطحي مطلوبة. ضع في اعتبارك الإعداد المتخصص والتكلفة العالية المحتملة.
EDXRF
: اختر EDXRF للتحليل العنصري للأغراض العامة حيث تكون الأولوية لتعدد الاستخدامات وسهولة الاستخدام. النظر في نوع المطياف (مشتت الطاقة مقابل مشتت الطول الموجي) بناءً على الاحتياجات التحليلية المحددة.
