لتحديد عنصر ما، يتم استخدام تقنيات وأدوات تحليلية مختلفة في المختبرات.
ولكل تقنية مبادئها وتطبيقاتها الخاصة بها.
وتشمل هذه الأساليب قياس الطيف الضوئي فوق البنفسجي (UV)، وقياس الطيف الضوئي بالامتصاص الذري (AAS)، وقياس الطيف الضوئي بالفلورة الذرية (AFS)، وقياس الطيف الضوئي بالانبعاث الذري (AES)، وقياس الطيف الضوئي بالانبعاث الذري (AES)، وقياس الطيف الكتلي بالبلازما المقترنة بالحث (ICP-MS)، وقياس الطيف التألق بالأشعة السينية (XRF).
تقدم كل تقنية ميزات فريدة ومناسبة لأنواع مختلفة من التحليلات.
وتتراوح هذه التحليلات من النوعية إلى الكمية.
كما أنها تغطي تركيبات العينات البسيطة إلى المعقدة.
شرح 5 تقنيات رئيسية
1. مقياس الطيف الضوئي فوق البنفسجي/المرئي (UV)
المبدأ: يستخدم قانون بير لقياس امتصاص الضوء بواسطة عينة ما للضوء، وهو ما يتناسب مع تركيزها.
الخصائص: حساسية عالية، وانتقائية جيدة، ودقة عالية، ونطاق تركيز واسع قابل للتطبيق، وتكلفة تحليل منخفضة.
2. مقياس الطيف الضوئي للامتصاص الذري والفلورية
التحليل الطيفي للامتصاص الذري (AAS): يعتمد على امتصاص الذرات الغازية للضوء، مما يؤدي إلى انتقالات الإلكترونات الخارجية من الحالة الأرضية إلى الحالة المثارة.
التحليل الطيفي بالفلورة الذرية (AFS): يقيس شدة التألق المنبعث من الذرات تحت التحفيز الإشعاعي.
ميزات AAS: حساسية عالية وانتقائية جيدة وتشغيل بسيط ودقة قياس جيدة.
ميزات جهاز قياس التألق الإشعاعي: حد كشف منخفض، وتداخل أقل، وهيكل بسيط للأداة، ونطاق خطي واسع.
3. مقياس الطيف الضوئي للانبعاث الذري (AES)
المبدأ: يتضمن انبعاث الضوء من الذرات عندما تعود الإلكترونات إلى الحالة الأرضية من الحالة المثارة.
الخصائص: درجة حرارة عالية، وحد اكتشاف جيد، وثبات، ونطاق خطي واسع.
4. مطياف الكتلة بالبلازما المقترنة حثيًا (ICP-MS)
المبدأ: تأيين مكونات العينة لتوليد أيونات بنسب شحن إلى كتلة مختلفة، يتم تحليلها بواسطة مطياف الكتلة.
الخصائص: نطاق قياس الكتلة الواسع، والدقة العالية، والحساسية المطلقة العالية.
5. مقياس الطيف الضوئي بالأشعة السينية (XRF)
المبدأ: يستثير العناصر الموجودة في العينة لتصدر أشعة سينية ثانوية، وهي خاصية مميزة لطاقة العناصر أو طولها الموجي.
الخصائص: الاختبار غير المتلف، والكشف عن العناصر المتعددة، وإمكانية التطبيق في علوم المواد والجيولوجيا.
كاشفات انجراف السيليكون (SDD) في التفلور الراديوي السيني (XRF)
الوظيفة: يتأين عند تعريضه للأشعة السينية، مما يولد شحنة تتناسب مع كمية العنصر في العينة.
معايير الاختيار: توفر أجهزة SDD دقة تحليل أفضل وأقل عرضة للتغيرات في درجات الحرارة، مما يجعلها مناسبة للعينات المعقدة وحدود الكشف المنخفضة.
تطبيقات التفلور الراديوي بالأشعة السينية
علم المواد والجيولوجيا: يوفر بيانات دقيقة عن محتوى العناصر والتحليل السريع للتركيب العنصري للصخور والخامات.
تحديد درجة السبائك: قادرة على تحديد أكثر من 1,000 سبيكة شائعة وتحليل المعادن الثمينة بأوقات تحليل متفاوتة لدقة مختلفة.
تتيح هذه التقنيات مجتمعةً إجراء تحليل شامل للعناصر في مختلف أنواع العينات.
وهي تدعم البحث والتطوير في مجالات علمية وصناعية متعددة.
مواصلة الاستكشاف، استشر خبرائنا
اكتشف كيفيمكن لأجهزة KINTEK SOLUTION يمكن للأدوات التحليلية المتطورة أن تحدث ثورة في قدرات مختبرك.
من خلال مجموعة من التقنيات المتخصصة بدءًا من أجهزة قياس الطيف الضوئي بالأشعة فوق البنفسجية إلى ICP-MS، توفر معداتنا المتقدمة حساسية ودقة وسرعة عالية.
أطلق العنان لإمكانات عيناتك اليوم - اتصل بـحل Kintek لاستكشاف كيف يمكن لحلولنا أن ترتقي بسير عملك التحليلي.
تصرف الآن واختبر الفرق في الدقة والأداء.
