قياس السُمك بالأشعة السينية (XRF) هو تقنية تستخدم تفاعل الأشعة السينية مع المواد لتحديد سُمكها.
عندما يتم توجيه الأشعة السينية إلى مادة ما، فإنها تتسبب في انبعاث أشعة سينية ثانوية من الذرات الموجودة في المادة، والمعروفة أيضًا باسم التألق.
وترتبط شدة هذا التألق ارتباطاً مباشراً بسماكة المادة.
ومن خلال تحليل شدة الأشعة السينية المنبعثة، يمكن تحديد سُمك المادة بدقة.
ما هو مبدأ قياس السُمك بالأشعة السينية؟ شرح 4 نقاط رئيسية
1. تفاعل الأشعة السينية مع المادة
عندما تضرب الأشعة السينية مادة ما، فإنها تتفاعل مع الذرات الموجودة في المادة.
ويؤدي هذا التفاعل إلى استثارة الذرات وانبعاث أشعة سينية بأطوال موجية محددة مميزة للعناصر الموجودة في المادة.
تُعرف هذه العملية باسم تألق الأشعة السينية.
2. قياس شدة التفلور
تُقاس شدة الأشعة السينية المنبعثة باستخدام مطياف التفلور بالأشعة السينية.
يكتشف المطياف الأطوال الموجية المميزة للأشعة السينية المنبعثة ويحدد شدتها.
تتناسب كثافة هذه الأشعة السينية المنبعثة مع كمية العنصر الموجود في المادة، والتي ترتبط بدورها بسُمك المادة.
3. الارتباط بالسمك
المبدأ الكامن وراء قياس السُمك باستخدام التفلور بالأشعة السينية هو أن شدة التألق تنخفض مع زيادة سُمك المادة.
ويرجع ذلك إلى أن الأشعة السينية يجب أن تخترق كمية أكبر من المادة، مما يخفف من شدتها.
ومن خلال معايرة مطياف التفلور بالأشعة السينية بسماكات معروفة، يمكن استخدام الجهاز لقياس سُمك العينات المجهولة بدقة.
4. المزايا والقيود
قياس السُمك بالتفلور الراديوي بالأشعة السينية غير مدمر وسريع ويمكن استخدامه لمجموعة كبيرة من المواد.
ومع ذلك، فإنه يتطلب معايرة بمعايير معروفة السُمك والتركيب.
يمكن أن تتأثر الدقة بتكوين المادة وخشونة سطحها.
بالإضافة إلى ذلك، يعتبر XRF أكثر فعالية لقياس الطبقات الرقيقة، التي يصل سمكها عادةً إلى بضعة ميكرومترات.
مواصلة الاستكشاف، استشر خبرائنا
اكتشف أعماق تحليل المواد مع تقنية KINTEK SOLUTION المتقدمة.
اكتشف الجودة الفائقة والأداء الذي لا مثيل له لمعدات التفلور بالأشعة السينية الخاصة بنا وارتقِ بقدرات مختبرك اليوم!
اتصل بنا لبدء القياس بدقة.
